Seria luster o super wysokim współczynniku odbicia i superniskich stratach

ten produkt akceptuje wyłącznie przetwarzanie na podstawie rysunków użytkownika
① Dimension: L*L*L=10*10*10-200*200*200mm
② Średnica otworu przelotowego D=φ4-φ12mm
③ Równoległe i pionowe między powierzchniami roboczymi ≤(3 "-2 ')
④ Kształt powierzchni obszaru roboczego: lepszy niż λ/10
⑤ Wada obszaru roboczego: lepsza niż 40/20
⑥ Materiał: ULE
Uwaga: Konkretne wskaźniki nie ograniczają się do powyższego zakresu i mogą być dostosowane do potrzeb użytkownika.
Zastosowanie: transmisja czasowo-częstotliwościowa, komputery kwantowe, komunikacja kwantowa, wykrywanie fal grawitacyjnych, komunikacja światłowodowa

① Wymiar D=φ3-φ25mm (tolerancja ±0.1),H=3-8mm D:H > 4:1 (tolerancja ±0.5)
D=φ26-φ100mm (tolerancja ±0.1),H=6-25mm D:H > 5:1 (tolerancja ±0.5)
② Rozmiar obszaru powlekania: konwencjonalny rozmiar D12.7, rozmiar obszaru powlekania 7.5; rozmiar obszaru powlekania D25 10, inny rozmiar obszaru powlekania można dostosować
③ Dokładność powierzchni: λ/ 10@632.8 nm
④ Błąd równoległy: <10"
⑤ Chropowatość: Ra0.12 nm (profilometr Zygo) obszar testowy 173*173um pełny pomiar częstotliwości
⑥Wymagania dotyczące powłoki: długość fali 420 nm-3000 nm, odbicie ≥99.999%, strata 2-3 ppm, transmisja 3-5 ppm
Tylna powłoka antyrefleksyjna;
⑦ Materiał: ULE, topiona krzemionka, monokrystaliczny krzem, szafir;
Uwaga: Konkretne wskaźniki nie ograniczają się do powyższego zakresu i mogą być dostosowane do potrzeb użytkownika.
Zastosowanie: żyroskop laserowy, laser dużej mocy, laser superstabilny, detekcja optyczna o wysokiej precyzji

① Wymiar D=φ3-φ25mm (tolerancja ±0.1),H=3-8mm D:H > 4:1 (tolerancja ±0.5)
D=φ26-φ100mm (tolerancja ±0.1),H=6-25mm D:H > 5:1 (tolerancja ±0.5)
② Rozmiar obszaru powlekania: konwencjonalny rozmiar D12.7, rozmiar obszaru powlekania 7.5; rozmiar obszaru powlekania D25 10, inny rozmiar obszaru powlekania można dostosować
③ Dokładność powierzchni: λ/ 10@632.8 nm
④ Błąd równoległy: <10"
⑤ Chropowatość: Ra0.12 nm (profilometr Zygo) obszar testowy 173*173um pełny pomiar częstotliwości
⑥Wymagania dotyczące powłoki: długość fali 420 nm-3000 nm, odbicie ≥99.999%, strata 2-3 ppm, transmisja 3-5 ppm
Tylna powłoka antyrefleksyjna;
⑦ Materiał: ULE, topiona krzemionka, monokrystaliczny krzem, szafir;
Uwaga: Konkretne wskaźniki nie ograniczają się do powyższego zakresu i mogą być dostosowane do potrzeb użytkownika.
Zastosowanie: żyroskop laserowy, laser dużej mocy, laser superstabilny, detekcja optyczna o wysokiej precyzji